流延膜测厚仪 多种在线测量模式
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产品描述

分析范围0--50微米 分析精度0.005微米 分析误差小于5% 分析时间30秒 元素范围从硫到铀 探测器分辨率145ev x射线管50w 尺寸576*495*545mm 重量90kg 温度范围15--30度 电源电压220v 孔径大小0.2mm Z轴范围0--140mm
用磁性传感器测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层,例如:漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。
镀层测厚仪它采用较新技术,具有精度高、示值稳定、功耗低、分辨率高、操作界面人性化等特点。其新增加的功能包括:分批组管理数据、多种在线测量模式、多种校准方式等,使仪器更加适合工业现场的工作需求,给客户提供了更多的便利。
流延膜测厚仪
X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。
满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可仪器状态,设定仪器参数,并有多种的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。
性价比高:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。
简易:对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。
流延膜测厚仪
镀层测厚仪在使用前为减少测量的误差,可以进行简单的调零。用附送的铝或者铁调零板调零即可。调零方法:
1、将探头垂直按压在调零板中间的位置,保持探头的稳定。
2、按下按键,屏幕会提示压紧探头,再根据提示把探头提起15cm以上。
3、屏幕显示0.0则调零完毕。
4、完成后,可以把有标准值的测试片放在调零板上测量。测量的数值与标准测试片的误差范围之内,则说明仪器可以正常使用了。
流延膜测厚仪
镀层测厚仪因为采用的是主机与探头分离式的设计,所以在购买时有两个不同量程的探头可以选择。F5N3的探头,大量程厚可以测到5mm,F3N3的探头,厚可以测到3mm。
在测量以mm为单位的镀层厚度时,大量程的镀层测厚仪LS223就可以满足您的测量需求。客户在选购时可以根据测量材料的厚度来选择相应的探头。镀层测厚仪90天无理由退换货,任何不满意都可以退。
我们公司充分利用多年积累的技术知识,坚持以客户为导向,不断的创新,为客户日益复杂化和多样化的社会课题以及需求提供完全集成的分析解决方案。
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