分析范围0--50微米
分析精度0.005微米
分析误差小于5%
分析时间30秒
元素范围从硫到铀
探测器分辨率145ev
x射线管50w
尺寸576*495*545mm
重量90kg
温度范围15--30度
电源电压220v
孔径大小0.2mm
Z轴范围0--140mm
镀层测厚仪关键有以下主要优点:
1、测量速度快,具有单次和连续2种测量方式可选择。
2、精度高 ,自动记忆校准值和自动识别被测基体的材质。
3、镀层测厚仪稳定性高,操作测量时会有蜂鸣器提示音和连续测量时蜂鸣器不发声提示。
4、 功能、数据、操作、显示全部是中文测量方法。
覆层厚度的测量方法关键有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中**种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
X射线发射源及接收检测头
X射线管装在一个抽真空后注满油的全密封的油箱中保证绝缘和良好冷却,高压等级根据有所区别,加上具有的温度自动保护与报警功能,提高了X射线管的稳定性和使用寿命。模块化设计、免维护设计方案及规范的制造保证了设备系统高可靠性。
检测头采用电离室和电子前置放大器组成高性能电离室检测头,离子室设计具有大空间,高抗干扰性、高灵敏度等特点。系统备有风冷、油冷恒温冷却单元,系统的使用寿命。
镀层测厚仪因为采用的是主机与探头分离式的设计,所以在购买时有两个不同量程的探头可以选择。F5N3的探头,大量程厚可以测到5mm,F3N3的探头,厚可以测到3mm。
在测量以mm为单位的镀层厚度时,大量程的镀层测厚仪LS223就可以满足您的测量需求。客户在选购时可以根据测量材料的厚度来选择相应的探头。镀层测厚仪90天无理由退换货,任何不满意都可以退。
天瑞仪器有限公司生产的能量色散X荧光光谱仪系列在电镀检测行业中, 针对上述五项需求的应用:
(1)、对镀层膜厚检测、电镀液分析可分析;
(2)、对RoHS有害元素检测、重金属检测、槽液杂质检测、水质在线监测可进行快速检测,检测环境里的重金属是否**标。
同时具有以下特点
快速:1分钟可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。
方便:X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器,能量分辨率更优于135eV,测试精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用更加方便,并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损:测试前后,样品无任何形式的变化。
直观:实时谱图,可直观显示元素含量。
镀层测厚仪,是用于测量磁性基体上的非磁性涂层的厚度以及非磁性基体上的非导电涂层的厚度。
产品镀层的厚度是企业需要控制的。市面上,常见的镀层测厚仪量程范围一般在0-2000μm。测量大厚度的镀层是测不出来的。
精度高,是镀层测厚仪的另一个大特点。精度高的根本是因为探头采用了非常的数字探头,测试的数据不容易受到干扰,并且保证优良的精度、即使温度变化了也不会影响测量。保证了重复性。
雄厚的技术力量,为我们的技术服务提供了可靠的保证。公司严谨的技术创新追求、无微不至地服务于客户,
诚心做事诚意做人,讲信用,重质量,生产灵活,供货时间准为客户提供优良品质的产品。
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