金属薄膜测厚仪 易操作 易维护
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产品描述

分析范围0--50微米 分析精度0.005微米 分析误差小于5% 分析时间30秒 元素范围从硫到铀 探测器分辨率145ev x射线管50w 尺寸576*495*545mm 重量90kg 温度范围15--30度 电源电压220v 孔径大小0.2mm Z轴范围0--140mm
镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对镀层厚度有了明确要求。
镀层测厚仪特点
实用特点一:0.5秒就可以快速无损测量出涂层以及镀层的厚度。并且自动识别测量的基材。
实用特点二:市面上的镀层测厚仪,在使用时都是需要校准的,但林上的镀层测厚仪LS223,*校准,只需凋零,仪器调零完毕后即可开始测量。
实用特点三:仪器只有一个按键,省去繁琐操作,测量更加的简单。
实用特点四:测头采用真正的红宝石,非常的耐磨和耐腐蚀,可以保证镀层测厚仪LS223长久有效的使用。
实用特点五:探头采用了的数字探头,这种探头不容易收到干扰,而且还提供优良的测试精度,即使温度变化也不受影响。
实用特点六:有F3N3探头和F5N3探头可选择F5N3探头的量程范围是5mm,F3N3探头的量程范围是3mm。铁铝两用,特别适用于大厚度的涂层检测。
金属薄膜测厚仪
镀层测厚仪,是用于测量磁性基体上的非磁性涂层的厚度以及非磁性基体上的非导电涂层的厚度。
产品镀层的厚度是企业需要控制的。市面上,常见的镀层测厚仪量程范围一般在0-2000μm。测量大厚度的镀层是测不出来的。
精度高,是镀层测厚仪的另一个大特点。精度高的根本是因为探头采用了非常的数字探头,测试的数据不容易受到干扰,并且保证优良的精度、即使温度变化了也不会影响测量。保证了重复性。
金属薄膜测厚仪
X射线发射源及接收检测头
X射线管装在一个抽真空后注满油的全密封的油箱中保证绝缘和良好冷却,高压等级根据有所区别,加上具有的温度自动保护与报警功能,提高了X射线管的稳定性和使用寿命。模块化设计、免维护设计方案及规范的制造保证了设备系统高可靠性。
检测头采用电离室和电子前置放大器组成高性能电离室检测头,离子室设计具有大空间,高抗干扰性、高灵敏度等特点。系统备有风冷、油冷恒温冷却单元,系统的使用寿命。
金属薄膜测厚仪
仪器特点: 
Ø  同时分析元素周期表中由钛(Ti)以上元素的镀层厚度; 
Ø  可以分析单层、双层、三层等金属及合金镀层的厚度; 
Ø  *复杂的样品预处理过程;分析测量动态范围宽,可从0.01M到60M ; 
Ø  采用的探测器技术及的信号处理线路,处理速度快,精度高,稳定可靠; 
Ø  采用正高压激发的微聚焦的X光管,激发与测试条件采用计算机软件数码控制与显示; 
Ø  采用彩色摄像头,准确观察样品并可拍照保存样品图像; 
Ø  采用电动控制样品平台,可以进行X-Y-Z的移动,准确方便; 
Ø  采用双激光对焦系统,准确定位测量位置; 
Ø  度高,稳定性好,故障率低; 
Ø  采用多层屏蔽保护,辐射性可靠; 
Ø  WINDOWS XP 中文应用软件,特的分析方法,完备强大的功能,操作简单,使用方便,  分析结果存入标准ACCESS数据库;
我们公司充分利用多年积累的技术知识,坚持以客户为导向,不断的创新,为客户日益复杂化和多样化的社会课题以及需求提供完全集成的分析解决方案。
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