分析范围0--50微米
分析精度0.005微米
分析误差小于5%
分析时间30秒
元素范围从硫到铀
探测器分辨率145ev
x射线管50w
尺寸576*495*545mm
重量90kg
温度范围15--30度
电源电压220v
孔径大小0.2mm
Z轴范围0--140mm
镀层测厚仪要求
1、不破坏的测量下具高精密度。
2、小的测定面积。
3、中间镀膜及素材的成份对测量值不产生影响。
4、同时且互不干扰的测量上层及中间镀膜。
5、同时测量双合金的镀膜厚及成份。
镀层测厚仪有两种开机使用方法。一种是探头在测试过程中自动触发开机，并且直接显示出测量结果。这是因为采用了数字探头，非常的灵敏，会自动识别出测量基材，并且快速自动转换。
还有一种是按键开机。开机仪器会显示探头型号，两种不同量程的探头可供客户选择。
X荧光测厚仪采用X荧光分析技术，可以测定各种金属镀层的厚度，包括单层、双层、多层及合金镀层等，它也可以进行电镀液的成分浓度测定。它能检测出常见金属镀层厚度，*样品预处理；分析时间短，仅为数十秒；即可分析出各金属镀层的厚度，分析测量动态范围宽，可从0.01M到60M。它是一种能谱分析方法，属于物理分析方法。当镀层样品在受到X射线照射时，其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自的特征X射线，探测器探测到这些特征X射线后，将其光信号转变为模拟电信号；经过模拟数字变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机进行处理；计算机的应用软件根据获取的谱峰信息，通过数据处理测定出被测镀层样品中所含元素的种类及各元素的镀层厚度。
仪器特点：
Ø 同时分析元素周期表中由钛（Ti）以上元素的镀层厚度；
Ø 可以分析单层、双层、三层等金属及合金镀层的厚度；
Ø *复杂的样品预处理过程；分析测量动态范围宽，可从0.01M到60M ；
Ø 采用的探测器技术及的信号处理线路，处理速度快，精度高，稳定可靠；
Ø 采用正高压激发的微聚焦的X光管，激发与测试条件采用计算机软件数码控制与显示；
Ø 采用彩色摄像头，准确观察样品并可拍照保存样品图像；
Ø 采用电动控制样品平台，可以进行X-Y-Z的移动，准确方便；
Ø 采用双激光对焦系统，准确定位测量位置；
Ø 度高，稳定性好，故障率低；
Ø 采用多层屏蔽保护，辐射性可靠；
Ø WINDOWS XP 中文应用软件，特的分析方法，完备强大的功能，操作简单，使用方便, 分析结果存入标准ACCESS数据库；
测厚仪产品特性
★进口高精度传感器，保证了测试精度
★严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制
★测量头自动升降，避免了人为因素造成的系统误差
★手动、自动双重测量模式，更方便客户选择
★配备微型打印机，数据实时显示、自动统计、打印，方便快捷地获取测试结果
★打印值、小值、平均值及每次测量结果，方便用户分析数据
★仪器自动保存多100组测试结果，随时查看并打印
★标准量块标定,方便用户快速标定设备
★测厚仪配备自动进样器，可一键实现全自动多点测量，人为误差小
★软件提供测试结果图形统计分析，准确直观地将测试结果展示给用户
★配备标准RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和数据传输
雄厚的技术力量，为我们的技术服务提供了可靠的保证。公司严谨的技术创新追求、无微不至地服务于客户，
诚心做事诚意做人，讲信用，重质量，生产灵活，供货时间准为客户提供优良品质的产品。
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