铝膜测厚仪 精度高 功耗低
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产品描述

分析范围0--50微米 分析精度0.005微米 分析误差小于5% 分析时间30秒 元素范围从硫到铀 探测器分辨率145ev x射线管50w 尺寸576*495*545mm 重量90kg 温度范围15--30度 电源电压220v 孔径大小0.2mm Z轴范围0--140mm
镀层测厚仪主要特点
1、无损、快速测量各种电镀层的厚度;
2、电镀层可以是单层/双层/三层;
3、镀金/镀银/镀镍/镀铜等都可以测量;
4、有电镀液成份分析以及金属成份分析等软件;
5、易操作/易维护;
6、准直器程控交换系统 多可同时装配6种规格的准直器,程序交换控制。
镀层测厚仪它采用较新技术,具有精度高、示值稳定、功耗低、分辨率高、操作界面人性化等特点。其新增加的功能包括:分批组管理数据、多种在线测量模式、多种校准方式等,使仪器更加适合工业现场的工作需求,给客户提供了更多的便利。
铝膜测厚仪
镀层测厚仪有两种开机使用方法。一种是探头在测试过程中自动触发开机,并且直接显示出测量结果。这是因为采用了数字探头,非常的灵敏,会自动识别出测量基材,并且快速自动转换。
还有一种是按键开机。开机仪器会显示探头型号,两种不同量程的探头可供客户选择。
铝膜测厚仪
x射线测厚仪是一种,以和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度,已达到要求的轧制厚度。我们主要来介绍一下x射线测厚仪的系统构成方法,希望可以帮助用户更好的应用产品。
用户操作终端
用户操作终端包括一个的计算机和高分辨率的彩色。可显示整个系统的检测、设定、偏差值;用户通过软件显示页面可直接控制和操作测厚仪。主操作页显示正常操作所需的各种数据。维护页面显示系统正常工作时各种参数高压反馈、管电流、灯丝电流、射线源温度等。一些与用户质量有关的重要数据如厚差曲线、厚度与长度关系曲线均可打印。技术员能很容易地通过操作终端的报表打印功能,打印出来以显示可用信息。
铝膜测厚仪
仪器特点: 
Ø  同时分析元素周期表中由钛(Ti)以上元素的镀层厚度; 
Ø  可以分析单层、双层、三层等金属及合金镀层的厚度; 
Ø  *复杂的样品预处理过程;分析测量动态范围宽,可从0.01M到60M ; 
Ø  采用的探测器技术及的信号处理线路,处理速度快,精度高,稳定可靠; 
Ø  采用正高压激发的微聚焦的X光管,激发与测试条件采用计算机软件数码控制与显示; 
Ø  采用彩色摄像头,准确观察样品并可拍照保存样品图像; 
Ø  采用电动控制样品平台,可以进行X-Y-Z的移动,准确方便; 
Ø  采用双激光对焦系统,准确定位测量位置; 
Ø  度高,稳定性好,故障率低; 
Ø  采用多层屏蔽保护,辐射性可靠; 
Ø  WINDOWS XP 中文应用软件,特的分析方法,完备强大的功能,操作简单,使用方便,  分析结果存入标准ACCESS数据库;
不管是过去、现在还是将来,我们都将坚持以优良的产品,满意的服务的为理念,追求,不断研制创新产品来服务于我们的客户,不断为社会创造更高的价值。
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