膜厚测试仪精度 多种校准方式
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产品描述

分析范围0--50微米 分析精度0.005微米 分析误差小于5% 分析时间30秒 元素范围从硫到铀 探测器分辨率145ev x射线管50w 尺寸576*495*545mm 重量90kg 温度范围15--30度 电源电压220v 孔径大小0.2mm Z轴范围0--140mm
镀层测厚仪配备了XY轴微移动平台,可以通过鼠标的点击操作,选择样品的多点测试,特别适应于细小结构多种不同镀层材料的测试。
镀层测厚仪具有高清晰、高放大倍数的摄像设备,测试样品的部位清楚明了,同时摄像设备拍抓测试部位的图片,和测试数据结果一同出现在测试报告中。
镀层测厚仪有两种开机使用方法。一种是探头在测试过程中自动触发开机,并且直接显示出测量结果。这是因为采用了数字探头,非常的灵敏,会自动识别出测量基材,并且快速自动转换。
还有一种是按键开机。开机仪器会显示探头型号,两种不同量程的探头可供客户选择。
膜厚测试仪精度
镀层测厚仪特点
实用特点一:0.5秒就可以快速无损测量出涂层以及镀层的厚度。并且自动识别测量的基材。
实用特点二:市面上的镀层测厚仪,在使用时都是需要校准的,但林上的镀层测厚仪LS223,*校准,只需凋零,仪器调零完毕后即可开始测量。
实用特点三:仪器只有一个按键,省去繁琐操作,测量更加的简单。
实用特点四:测头采用真正的红宝石,非常的耐磨和耐腐蚀,可以保证镀层测厚仪LS223长久有效的使用。
实用特点五:探头采用了的数字探头,这种探头不容易收到干扰,而且还提供优良的测试精度,即使温度变化也不受影响。
实用特点六:有F3N3探头和F5N3探头可选择F5N3探头的量程范围是5mm,F3N3探头的量程范围是3mm。铁铝两用,特别适用于大厚度的涂层检测。
膜厚测试仪精度
台式x射线测厚仪可测量:单一镀层:Zn,Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
应用领域:黄金、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测;金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;贵金属加工和饰加工行业;银行、饰销售和检测机构;电镀行业。
快速、的分析:
大面积正比计数探测器和50瓦微聚焦X射线光管(X射线光束强度大、斑点小,样品激发佳)相结合,提供灵敏度
简单的元素区分:
膜厚测试仪精度
x射线测厚仪是一种,以和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度,已达到要求的轧制厚度。我们主要来介绍一下x射线测厚仪的系统构成方法,希望可以帮助用户更好的应用产品。
用户操作终端
用户操作终端包括一个的计算机和高分辨率的彩色。可显示整个系统的检测、设定、偏差值;用户通过软件显示页面可直接控制和操作测厚仪。主操作页显示正常操作所需的各种数据。维护页面显示系统正常工作时各种参数高压反馈、管电流、灯丝电流、射线源温度等。一些与用户质量有关的重要数据如厚差曲线、厚度与长度关系曲线均可打印。技术员能很容易地通过操作终端的报表打印功能,打印出来以显示可用信息。
我们公司充分利用多年积累的技术知识,坚持以客户为导向,不断的创新,为客户日益复杂化和多样化的社会课题以及需求提供完全集成的分析解决方案。
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