膜厚测试仪过程控制 程序交换控制
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产品描述

分析范围0--50微米 分析精度0.005微米 分析误差小于5% 分析时间30秒 元素范围从硫到铀 探测器分辨率145ev x射线管50w 尺寸576*495*545mm 重量90kg 温度范围15--30度 电源电压220v 孔径大小0.2mm Z轴范围0--140mm
随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用X射线镀层测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且**,是工业和科研使用广泛的测厚仪器。
长效稳定X铜光管
半导体硅片电制冷系统,摒弃液氮制冷
内置高清晰摄像头,方便用户随时观测样品
脉冲处理器,数据处理快速准确
手动开关样品腔,操作方便
三重保护模式
整体钢架结构、外型时尚
FP软件,无标准样品时亦可测量
管流:50μA-1000μA
环境温度:15℃-30℃
环境湿度:30%-70%
膜厚测试仪过程控制
通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱 
性能优化,可分析的元素范围大:
预置800多种容易选择的应用参数/方法
的长期稳定性:
自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正,确保稳定的测试结果
例行进行简单快速的波谱校准,可自动检查仪器性能(例如灵敏性)并进行必要的修正
坚固耐用的设计
可在实验室或生产线上操作
坚固的工业设计
膜厚测试仪过程控制
镀层测厚仪有两种开机使用方法。一种是探头在测试过程中自动触发开机,并且直接显示出测量结果。这是因为采用了数字探头,非常的灵敏,会自动识别出测量基材,并且快速自动转换。
还有一种是按键开机。开机仪器会显示探头型号,两种不同量程的探头可供客户选择。
膜厚测试仪过程控制
镀层测厚仪特点
实用特点一:0.5秒就可以快速无损测量出涂层以及镀层的厚度。并且自动识别测量的基材。
实用特点二:市面上的镀层测厚仪,在使用时都是需要校准的,但林上的镀层测厚仪LS223,*校准,只需凋零,仪器调零完毕后即可开始测量。
实用特点三:仪器只有一个按键,省去繁琐操作,测量更加的简单。
实用特点四:测头采用真正的红宝石,非常的耐磨和耐腐蚀,可以保证镀层测厚仪LS223长久有效的使用。
实用特点五:探头采用了的数字探头,这种探头不容易收到干扰,而且还提供优良的测试精度,即使温度变化也不受影响。
实用特点六:有F3N3探头和F5N3探头可选择F5N3探头的量程范围是5mm,F3N3探头的量程范围是3mm。铁铝两用,特别适用于大厚度的涂层检测。
雄厚的技术力量,为我们的技术服务提供了可靠的保证。公司严谨的技术创新追求、无微不至地服务于客户,
诚心做事诚意做人,讲信用,重质量,生产灵活,供货时间准为客户提供优良品质的产品。
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