分析范围0--50微米
分析精度0.005微米
分析误差小于5%
分析时间30秒
元素范围从硫到铀
探测器分辨率145ev
x射线管50w
尺寸576*495*545mm
重量90kg
温度范围15--30度
电源电压220v
孔径大小0.2mm
Z轴范围0--140mm
随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用X射线镀层测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且**,是工业和科研使用广泛的测厚仪器。
镀层测厚仪,是用于测量磁性基体上的非磁性涂层的厚度以及非磁性基体上的非导电涂层的厚度。
产品镀层的厚度是企业需要控制的。市面上,常见的镀层测厚仪量程范围一般在0-2000μm。测量大厚度的镀层是测不出来的。
精度高,是镀层测厚仪的另一个大特点。精度高的根本是因为探头采用了非常的数字探头,测试的数据不容易受到干扰,并且保证优良的精度、即使温度变化了也不会影响测量。保证了重复性。
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天瑞仪器作为一个集仪器研发、系统设计、产品生产、服务提供为一身的综合性仪器供应厂商,一直以来严格遵循“360°服务”的客户服务理念,以提高顾客满意度为根本目标,从服务力量、服务流程、服务内容等各个方面为客户提供的服务。
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仪器特点:
Ø 同时分析元素周期表中由钛(Ti)以上元素的镀层厚度;
Ø 可以分析单层、双层、三层等金属及合金镀层的厚度;
Ø *复杂的样品预处理过程;分析测量动态范围宽,可从0.01M到60M ;
Ø 采用的探测器技术及的信号处理线路,处理速度快,精度高,稳定可靠;
Ø 采用正高压激发的微聚焦的X光管,激发与测试条件采用计算机软件数码控制与显示;
Ø 采用彩色摄像头,准确观察样品并可拍照保存样品图像;
Ø 采用电动控制样品平台,可以进行X-Y-Z的移动,准确方便;
Ø 采用双激光对焦系统,准确定位测量位置;
Ø 度高,稳定性好,故障率低;
Ø 采用多层屏蔽保护,辐射性可靠;
Ø WINDOWS XP 中文应用软件,特的分析方法,完备强大的功能,操作简单,使用方便, 分析结果存入标准ACCESS数据库;
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镀层测厚仪有两种开机使用方法。一种是探头在测试过程中自动触发开机,并且直接显示出测量结果。这是因为采用了数字探头,非常的灵敏,会自动识别出测量基材,并且快速自动转换。
还有一种是按键开机。开机仪器会显示探头型号,两种不同量程的探头可供客户选择。
我们公司充分利用多年积累的技术知识,坚持以客户为导向,不断的创新,为客户日益复杂化和多样化的社会课题以及需求提供完全集成的分析解决方案。
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