分析范围0--50微米
分析精度0.005微米
分析误差小于5%
分析时间30秒
元素范围从硫到铀
探测器分辨率145ev
x射线管50w
尺寸576*495*545mm
重量90kg
温度范围15--30度
电源电压220v
孔径大小0.2mm
Z轴范围0--140mm
镀层测厚仪配备了XY轴微移动平台,可以通过鼠标的点击操作,选择样品的多点测试,特别适应于细小结构多种不同镀层材料的测试。
镀层测厚仪具有高清晰、高放大倍数的摄像设备,测试样品的部位清楚明了,同时摄像设备拍抓测试部位的图片,和测试数据结果一同出现在测试报告中。
镀层测厚仪因为采用的是主机与探头分离式的设计,所以在购买时有两个不同量程的探头可以选择。F5N3的探头,大量程厚可以测到5mm,F3N3的探头,厚可以测到3mm。
在测量以mm为单位的镀层厚度时,大量程的镀层测厚仪LS223就可以满足您的测量需求。客户在选购时可以根据测量材料的厚度来选择相应的探头。镀层测厚仪90天无理由退换货,任何不满意都可以退。
![膜厚仪](//l.b2b168.com/2022/05/07/17/202205071705243099854.jpg)
通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱
性能优化,可分析的元素范围大:
预置800多种容易选择的应用参数/方法
的长期稳定性:
自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正,确保稳定的测试结果
例行进行简单快速的波谱校准,可自动检查仪器性能(例如灵敏性)并进行必要的修正
坚固耐用的设计
可在实验室或生产线上操作
坚固的工业设计
![膜厚仪](//l.b2b168.com/2022/05/07/17/202205071705255986064.jpg)
镀层测厚仪它采用较新技术,具有精度高、示值稳定、功耗低、分辨率高、操作界面人性化等特点。其新增加的功能包括:分批组管理数据、多种在线测量模式、多种校准方式等,使仪器更加适合工业现场的工作需求,给客户提供了更多的便利。
![膜厚仪](//l.b2b168.com/2022/05/07/17/202205071705242382264.jpg)
长效稳定X铜光管
半导体硅片电制冷系统,摒弃液氮制冷
内置高清晰摄像头,方便用户随时观测样品
脉冲处理器,数据处理快速准确
手动开关样品腔,操作方便
三重保护模式
整体钢架结构、外型时尚
FP软件,无标准样品时亦可测量
管流:50μA-1000μA
环境温度:15℃-30℃
环境湿度:30%-70%
不管是过去、现在还是将来,我们都将坚持以优良的产品,满意的服务的为理念,追求,不断研制创新产品来服务于我们的客户,不断为社会创造更高的价值。
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