膜厚仪规格 多种在线测量模式
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产品描述

分析范围0--50微米 分析精度0.005微米 分析误差小于5% 分析时间30秒 元素范围从硫到铀 探测器分辨率145ev x射线管50w 尺寸576*495*545mm 重量90kg 温度范围15--30度 电源电压220v 孔径大小0.2mm Z轴范围0--140mm
镀层测厚仪关键有以下主要优点: 
1、测量速度快,具有单次和连续2种测量方式可选择。
2、精度高 ,自动记忆校准值和自动识别被测基体的材质。
3、镀层测厚仪稳定性高,操作测量时会有蜂鸣器提示音和连续测量时蜂鸣器不发声提示。
4、 功能、数据、操作、显示全部是中文测量方法。
覆层厚度的测量方法关键有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中**种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
镀层测厚仪,是用于测量磁性基体上的非磁性涂层的厚度以及非磁性基体上的非导电涂层的厚度。
产品镀层的厚度是企业需要控制的。市面上,常见的镀层测厚仪量程范围一般在0-2000μm。测量大厚度的镀层是测不出来的。
精度高,是镀层测厚仪的另一个大特点。精度高的根本是因为探头采用了非常的数字探头,测试的数据不容易受到干扰,并且保证优良的精度、即使温度变化了也不会影响测量。保证了重复性。
膜厚仪规格
测厚仪产品特性
★进口高精度传感器,保证了测试精度
★严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制
★测量头自动升降,避免了人为因素造成的系统误差
★手动、自动双重测量模式,更方便客户选择
★配备微型打印机,数据实时显示、自动统计、打印,方便快捷地获取测试结果
★打印值、小值、平均值及每次测量结果,方便用户分析数据
★仪器自动保存多100组测试结果,随时查看并打印
★标准量块标定,方便用户快速标定设备
★测厚仪配备自动进样器,可一键实现全自动多点测量,人为误差小
★软件提供测试结果图形统计分析,准确直观地将测试结果展示给用户
★配备标准RS232接口,方便系统与电脑的外部连接和数据传输
膜厚仪规格
X射线发射源及接收检测头
X射线管装在一个抽真空后注满油的全密封的油箱中保证绝缘和良好冷却,高压等级根据有所区别,加上具有的温度自动保护与报警功能,提高了X射线管的稳定性和使用寿命。模块化设计、免维护设计方案及规范的制造保证了设备系统高可靠性。
检测头采用电离室和电子前置放大器组成高性能电离室检测头,离子室设计具有大空间,高抗干扰性、高灵敏度等特点。系统备有风冷、油冷恒温冷却单元,系统的使用寿命。
膜厚仪规格
镀层测厚仪它采用较新技术,具有精度高、示值稳定、功耗低、分辨率高、操作界面人性化等特点。其新增加的功能包括:分批组管理数据、多种在线测量模式、多种校准方式等,使仪器更加适合工业现场的工作需求,给客户提供了更多的便利。
我们公司充分利用多年积累的技术知识,坚持以客户为导向,不断的创新,为客户日益复杂化和多样化的社会课题以及需求提供完全集成的分析解决方案。
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