分析范围0--50微米
分析精度0.005微米
分析误差小于5%
分析时间30秒
元素范围从硫到铀
探测器分辨率145ev
x射线管50w
尺寸576*495*545mm
重量90kg
温度范围15--30度
电源电压220v
孔径大小0.2mm
Z轴范围0--140mm
镀层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中**种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
X射线和β射线法是无接触无损测量,测量范围较小,X射线法可测薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
镀层测厚仪特点
实用特点一:0.5秒就可以快速无损测量出涂层以及镀层的厚度。并且自动识别测量的基材。
实用特点二:市面上的镀层测厚仪,在使用时都是需要校准的,但林上的镀层测厚仪LS223,*校准,只需凋零,仪器调零完毕后即可开始测量。
实用特点三:仪器只有一个按键,省去繁琐操作,测量更加的简单。
实用特点四:测头采用真正的红宝石,非常的耐磨和耐腐蚀,可以保证镀层测厚仪LS223长久有效的使用。
实用特点五:探头采用了的数字探头,这种探头不容易收到干扰,而且还提供优良的测试精度,即使温度变化也不受影响。
实用特点六:有F3N3探头和F5N3探头可选择F5N3探头的量程范围是5mm,F3N3探头的量程范围是3mm。铁铝两用,特别适用于大厚度的涂层检测。
![商业化膜厚测量仪主要性能参数](//l.b2b168.com/2022/05/07/17/202205071705240162184.jpg)
台式x射线测厚仪可测量:单一镀层:Zn,Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
应用领域:黄金、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测;金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;贵金属加工和饰加工行业;银行、饰销售和检测机构;电镀行业。
快速、的分析:
大面积正比计数探测器和50瓦微聚焦X射线光管(X射线光束强度大、斑点小,样品激发佳)相结合,提供灵敏度
简单的元素区分:
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镀层测厚仪采用了电涡流原理以及霍尔效应测量的原理。主要用于测量金属以及非金属等基体上的油漆层、电镀层等非磁性材料的厚度。可以快速无损的测量出涂镀层的厚度。
广泛应用在电镀、喷涂、管道防腐、铝型材、钢结构、印刷线路版、及丝网印刷等行业中。特别适合用于生产现场的质量管控。
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天瑞仪器有限公司生产的能量色散X荧光光谱仪系列在电镀检测行业中, 针对上述五项需求的应用:
(1)、对镀层膜厚检测、电镀液分析可分析;
(2)、对RoHS有害元素检测、重金属检测、槽液杂质检测、水质在线监测可进行快速检测,检测环境里的重金属是否**标。
同时具有以下特点
快速:1分钟可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。
方便:X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器,能量分辨率更优于135eV,测试精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用更加方便,并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损:测试前后,样品无任何形式的变化。
直观:实时谱图,可直观显示元素含量。
我们公司充分利用多年积累的技术知识,坚持以客户为导向,不断的创新,为客户日益复杂化和多样化的社会课题以及需求提供完全集成的分析解决方案。
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