费希尔膜厚仪mpo 程序交换控制
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产品描述

分析范围0--50微米 分析精度0.005微米 分析误差小于5% 分析时间30秒 元素范围从硫到铀 探测器分辨率145ev x射线管50w 尺寸576*495*545mm 重量90kg 温度范围15--30度 电源电压220v 孔径大小0.2mm Z轴范围0--140mm
镀层测厚仪主要特点
1、无损、快速测量各种电镀层的厚度;
2、电镀层可以是单层/双层/三层;
3、镀金/镀银/镀镍/镀铜等都可以测量;
4、有电镀液成份分析以及金属成份分析等软件;
5、易操作/易维护;
6、准直器程控交换系统 多可同时装配6种规格的准直器,程序交换控制。
X射线发射源及接收检测头
X射线管装在一个抽真空后注满油的全密封的油箱中保证绝缘和良好冷却,高压等级根据有所区别,加上具有的温度自动保护与报警功能,提高了X射线管的稳定性和使用寿命。模块化设计、免维护设计方案及规范的制造保证了设备系统高可靠性。
检测头采用电离室和电子前置放大器组成高性能电离室检测头,离子室设计具有大空间,高抗干扰性、高灵敏度等特点。系统备有风冷、油冷恒温冷却单元,系统的使用寿命。
费希尔膜厚仪mpo
台式x射线测厚仪可测量:单一镀层:Zn,Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
应用领域:黄金、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测;金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;贵金属加工和饰加工行业;银行、饰销售和检测机构;电镀行业。
快速、的分析:
大面积正比计数探测器和50瓦微聚焦X射线光管(X射线光束强度大、斑点小,样品激发佳)相结合,提供灵敏度
简单的元素区分:
费希尔膜厚仪mpo
X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。
满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可仪器状态,设定仪器参数,并有多种的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。
性价比高:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。
简易:对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。
费希尔膜厚仪mpo
镀层测厚仪采用了电涡流原理以及霍尔效应测量的原理。主要用于测量金属以及非金属等基体上的油漆层、电镀层等非磁性材料的厚度。可以快速无损的测量出涂镀层的厚度。
广泛应用在电镀、喷涂、管道防腐、铝型材、钢结构、印刷线路版、及丝网印刷等行业中。特别适合用于生产现场的质量管控。
我们公司充分利用多年积累的技术知识,坚持以客户为导向,不断的创新,为客户日益复杂化和多样化的社会课题以及需求提供完全集成的分析解决方案。
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