国产Rohs仪器生产厂家

ROHS检测仪就是X射线荧光光谱仪，其分析原理也就是X射线荧光光谱仪的分析原理。
X射线荧光光谱仪通常可分为两大类，波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)，波长色散光谱仪主要部件包括激发源、分光晶体和测角仪、探测器等，而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和相关电子与控制部件，相对简单。波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长：nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）式中 ，λ为分析谱线波长；d为晶体的晶格间距；θ为衍射角；n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特息。能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量：Q=kE 式中，K为入射射线的光子能量；Q为探测器产生的相应电荷量；k为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特息。待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
ROHS检测仪的工作原理：
1、波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长： 
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ为分析谱线波长；d为晶体的晶格间距；θ为衍射角；n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特息。
2、能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量： 
Q=kE
式中，K为入射射线的光子能量；Q为探测器产生的相应电荷量；k为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特息。 
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。 
为获得样品的定性和定量信息，除光谱仪外，还必须采用一定的样品制备技术，并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。

RoHS检测仪就是欧盟RoHS测试标准的检测仪器。简单的说就是测试铅Pb，镉Cd，汞Hg，六价铬Cr6+，多溴二苯醚PBDE，PBB六种有害物质的仪器。RoHS检测仪是为了控制生产商生产的产品中对人体健康有害的重金属含量。比如空调、洗衣机、吸尘器、热水器、手机、这些产品在人们生活中都会经常遇到，所以如果重金属**标会影响人体健康。建议生产商要严格控制重金属含量，**广大消费者的健康。

XRF光谱仪比前几代更小、更灵敏、用户使用更方便
XRF光谱仪其灵敏度比之前的版本高出四倍。该仪器覆盖从氟到铀的所有周期表元素，增强了灵敏度和灵活性以更好获得样品的全部元素组成。
XRF光谱仪包含50Wx射线管和一代硅漂移检测器（SDD），可进行光元素和小斑点分析。该仪器比其前身需要更少的实验室空间，还能适应XRF分析中使用的常规大小、以及大型和不规则形状的样品。
XRF光谱仪能分析从石油化工、采矿和水泥到法医，宝石学和环境控制各种应用的材料特性。

技术指标
元素分析范围从硫（S）到铀（U）
分析检出限可达1ppm
分析含量一般为1ppm到99.99％
任意多个可选择的分析和识别模型
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
温度适应范围为15℃至30℃
电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：160±5eV
外观尺寸： 550×416×333mm 
样品腔尺寸：460×298×98mm 
重量：45Kg
二.工作环境要求：
2.1 环境温度要求：15℃-30℃
2.2 环境相对湿度：<70%
2.3 工作电源：交流220±5V
2.4 周围不能有强电磁干扰。
ROHS测试机标准配置
样品平台
信噪比增强器
电制冷Si-PIN探测器
检测电子电路
高低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机
我们公司本着品质精湛，服务周到，售后完善的理念，以实惠的价格，优惠的品质赢得市场，我们将竭诚为您服务。
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