分析范围0--50微米
分析精度0.005微米
分析误差小于5%
分析时间30秒
元素范围从硫到铀
探测器分辨率145ev
x射线管50w
尺寸576*495*545mm
重量90kg
温度范围15--30度
电源电压220v
孔径大小0.2mm
Z轴范围0--140mm
随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用X射线镀层测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且**，是工业和科研使用广泛的测厚仪器。
镀层测厚仪采用了电涡流原理以及霍尔效应测量的原理。主要用于测量金属以及非金属等基体上的油漆层、电镀层等非磁性材料的厚度。可以快速无损的测量出涂镀层的厚度。
广泛应用在电镀、喷涂、管道防腐、铝型材、钢结构、印刷线路版、及丝网印刷等行业中。特别适合用于生产现场的质量管控。
镀层测厚仪特点
实用特点一：0.5秒就可以快速无损测量出涂层以及镀层的厚度。并且自动识别测量的基材。
实用特点二：市面上的镀层测厚仪，在使用时都是需要校准的，但林上的镀层测厚仪LS223，*校准，只需凋零，仪器调零完毕后即可开始测量。
实用特点三：仪器只有一个按键，省去繁琐操作，测量更加的简单。
实用特点四：测头采用真正的红宝石，非常的耐磨和耐腐蚀，可以保证镀层测厚仪LS223长久有效的使用。
实用特点五：探头采用了的数字探头，这种探头不容易收到干扰，而且还提供优良的测试精度，即使温度变化也不受影响。
实用特点六：有F3N3探头和F5N3探头可选择F5N3探头的量程范围是5mm，F3N3探头的量程范围是3mm。铁铝两用，特别适用于大厚度的涂层检测。
快速：1分钟可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。
方便：X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器，能量分辨率更优于eV，测试精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用更加方便，并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损：测试前后，样品无任何形式的变化。
直观：实时谱图，可直观显示元素含量。
测试范围广：X荧光光谱仪，是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高：由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以，其测量的可靠性更高。
满足不同需求：测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可仪器状态，设定仪器参数，并有多种的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。
性价比高：相比化学分析类仪器，X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。
简易：对人员技术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便。
X射线发射源及接收检测头
X射线管装在一个抽真空后注满油的全密封的油箱中保证绝缘和良好冷却，高压等级根据有所区别，加上具有的温度自动保护与报警功能，提高了X射线管的稳定性和使用寿命。模块化设计、免维护设计方案及规范的制造保证了设备系统高可靠性。
检测头采用电离室和电子前置放大器组成高性能电离室检测头，离子室设计具有大空间，高抗干扰性、高灵敏度等特点。系统备有风冷、油冷恒温冷却单元，系统的使用寿命。
不管是过去、现在还是将来，我们都将坚持以优良的产品，满意的服务的为理念，追求，不断研制创新产品来服务于我们的客户，不断为社会创造更高的价值。
http://jstryqgfyxgs.b2b168.com
