分析范围0--50微米
分析精度0.005微米
分析误差小于5%
分析时间30秒
元素范围从硫到铀
探测器分辨率145ev
x射线管50w
尺寸576*495*545mm
重量90kg
温度范围15--30度
电源电压220v
孔径大小0.2mm
Z轴范围0--140mm
镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的*二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱
性能优化，可分析的元素范围大：
预置800多种容易选择的应用参数/方法
的长期稳定性：
自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正，确保稳定的测试结果
例行进行简单快速的波谱校准，可自动检查仪器性能（例如灵敏性）并进行必要的修正
坚固耐用的设计
可在实验室或生产线上操作
坚固的工业设计
镀层测厚仪特点
实用特点一：0.5秒就可以快速无损测量出涂层以及镀层的厚度。并且自动识别测量的基材。
实用特点二：市面上的镀层测厚仪，在使用时都是需要校准的，但林上的镀层测厚仪LS223，*校准，只需凋零，仪器调零完毕后即可开始测量。
实用特点三：仪器只有一个按键，省去繁琐操作，测量更加的简单。
实用特点四：测头采用真正的红宝石，非常的耐磨和耐腐蚀，可以保证镀层测厚仪LS223长久有效的使用。
实用特点五：探头采用了的数字探头，这种探头不容易收到干扰，而且还提供优良的测试精度，即使温度变化也不受影响。
实用特点六：有F3N3探头和F5N3探头可选择F5N3探头的量程范围是5mm，F3N3探头的量程范围是3mm。铁铝两用，特别适用于大厚度的涂层检测。
X荧光测厚仪采用X荧光分析技术，可以测定各种金属镀层的厚度，包括单层、双层、多层及合金镀层等，它也可以进行电镀液的成分浓度测定。它能检测出常见金属镀层厚度，*样品预处理；分析时间短，仅为数十秒；即可分析出各金属镀层的厚度，分析测量动态范围宽，可从0.01M到60M。它是一种能谱分析方法，属于物理分析方法。当镀层样品在受到X射线照射时，其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自的特征X射线，探测器探测到这些特征X射线后，将其光信号转变为模拟电信号；经过模拟数字变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机进行处理；计算机的应用软件根据获取的谱峰信息，通过数据处理测定出被测镀层样品中所含元素的种类及各元素的镀层厚度。
长效稳定X铜光管
半导体硅片电制冷系统，摒弃液氮制冷
内置高清晰摄像头，方便用户随时观测样品
脉冲处理器，数据处理快速准确
手动开关样品腔，操作方便
三重保护模式
整体钢架结构、外型时尚
FP软件，无标准样品时亦可测量
管流：50μA-1000μA
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：30%-70%
雄厚的技术力量，为我们的技术服务提供了可靠的保证。公司严谨的技术创新追求、无微不至地服务于客户，
诚心做事诚意做人，讲信用，重质量，生产灵活，供货时间准为客户提供优良品质的产品。
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