x光膜厚测试仪 精度高 功耗低

镀层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中**种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
X射线和β射线法是无接触无损测量，测量范围较小，X射线法可测薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
镀层测厚仪特点
实用特点一：0.5秒就可以快速无损测量出涂层以及镀层的厚度。并且自动识别测量的基材。
实用特点二：市面上的镀层测厚仪，在使用时都是需要校准的，但林上的镀层测厚仪LS223，*校准，只需凋零，仪器调零完毕后即可开始测量。
实用特点三：仪器只有一个按键，省去繁琐操作，测量更加的简单。
实用特点四：测头采用真正的红宝石，非常的耐磨和耐腐蚀，可以保证镀层测厚仪LS223长久有效的使用。
实用特点五：探头采用了的数字探头，这种探头不容易收到干扰，而且还提供优良的测试精度，即使温度变化也不受影响。
实用特点六：有F3N3探头和F5N3探头可选择F5N3探头的量程范围是5mm，F3N3探头的量程范围是3mm。铁铝两用，特别适用于大厚度的涂层检测。

镀层测厚仪它采用较新技术，具有精度高、示值稳定、功耗低、分辨率高、操作界面人性化等特点。其新增加的功能包括：分批组管理数据、多种在线测量模式、多种校准方式等，使仪器更加适合工业现场的工作需求，给客户提供了更多的便利。

镀层测厚仪有两种开机使用方法。一种是探头在测试过程中自动触发开机，并且直接显示出测量结果。这是因为采用了数字探头，非常的灵敏，会自动识别出测量基材，并且快速自动转换。
还有一种是按键开机。开机仪器会显示探头型号，两种不同量程的探头可供客户选择。

镀层测厚仪在使用前为减少测量的误差，可以进行简单的调零。用附送的铝或者铁调零板调零即可。调零方法：
1、将探头垂直按压在调零板中间的位置，保持探头的稳定。
2、按下按键，屏幕会提示压紧探头，再根据提示把探头提起15cm以上。
3、屏幕显示0.0则调零完毕。
4、完成后，可以把有标准值的测试片放在调零板上测量。测量的数值与标准测试片的误差范围之内，则说明仪器可以正常使用了。
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